NVI-211A

ウェハー･チップ外観検査装置
Machine for Visual Inspection on the Wafer sheet

 

 

仕様  Specification

 

 

※装置仕様及び処理能力は、部品サイズや形状、測定時間や項目数等により変動しますので、別途ご相談の上、
  決定させていただきます。
※掲載写真はイメージです。撮影や印刷の関係で実物の色と異なる場合がありますので、ご了承ください。

※The specification of the product might change without a previous  notice.
※Please note that the picture of products may be different from actual  ones depending on shooting & printing conditions.